Česká metrologická společnost, z.s. uspořádala 26. května v Praze konferenci se zaměřením na novinky v oblasti legální, vědecké a průmyslové metrologie.
Konference nabídla účastníkům aktuální informace a nové poznatky z průřezových oblastí metrologie v podání přednášejících z předních metrologických institucí a organizací - Úřadu pro technickou normalizaci, metrologii a státní zkušebnictví (ÚNMZ), Českého metrologického institutu (ČMI), zástupců významných průmyslových a odborných organizací.
Konference se osobně zúčastnil Ing. Jiří Kratochvíl, předseda ÚNMZ a ve svém úvodním vystoupení zdůraznil význam metrologie a standardizace, neboť měření, metrologická pravidla a technické normy jsou základem kvality nejenom v průmyslu, ale prakticky ve všech procesech a činnostech v organizacích. Podpořil potřebu konání konferencí a dalších odborných akcí, které Česká metrologická společnost, z.s. organizuje.
Ing. Zbyněk Veselák z ÚNMZ, ředitel odboru metrologie, podal podrobné informace k novelizace vyhlášky č. 345/2002 Sb., ve znění pozdějších předpisů. Uvedl mimo jiné, že novelizací vyhlášky dochází na jedné straně k částečnému rozšíření současného rozsahu regulace v oblasti legální metrologie, na druhé straně ke zrušení regulace u některých druhů měřidel. Regulace je dále v řadě případů zpřesněna v reakci na evropské i národní požadavky.
Ing. David Mahovský, z Českého metrologického institutu, OI Praha, představil účastníkům aktuální informace k problematice digitálního kalibračního certifikátu, se zaměřením na přechod od tradičních tištěných kalibračních listů k digitálním kalibračním certifikátům, přehled vhodných formátů a možnosti jejich aplikace v rámci kalibrační laboratoře.